分子を取り込む材料を量子センサーへ 東大など、MOFの電子スピンを光で検出
東京大学、グラスゴー大学、シェフィールド大学などの研究グループは10月9日、小さな穴を持つ材料「多孔性金属錯体（MOF）」の中に生じる電子スピンを、光で検出したと発表しました。論文は同日、Journal of the American Ch…
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